存儲器高速老化測試系統(tǒng)可針對NAND Flash、UFS芯片進行高速、高低溫度范圍的全功能動態(tài)老化測試。用戶可以對單個槽位進行獨立程序控制，對NAND Flash進行擦除，讀寫、狀態(tài)查詢等功能的操作，并支持專用工具進行數(shù)據(jù)分析。針對集成NAND和Controller的模組芯片（例如UFS和eMMC），還可進行接口協(xié)議和性能測試。高速存儲器老化測試系統(tǒng)可實現(xiàn)早期失效篩選、故障定位、量產老化等測試需求。 另外在系統(tǒng)基礎上，可通過更換Burn-in Board，支持NAND、UFS、eMMC、eMCP、uMCP等多種芯片的測試，以滿足客戶不同芯片的老化測試需求。