顯示驅(qū)動(dòng)芯片晶圓探測自動(dòng)測試設(shè)備是一款集成了高性能獨(dú)立測試通道的CP測試機(jī)，用于對(duì)Driver IC的電性能測試，包括DC參數(shù)測試、AC參數(shù)測試以及Function測試。設(shè)備測試效率高，具備并行測試能力，可同時(shí)對(duì)多個(gè)DUT并行測試，且每個(gè)測試通道可獨(dú)立處理測試需求；適用芯片范圍廣，具有可擴(kuò)展的平臺(tái)架構(gòu)，通過靈活配置可實(shí)現(xiàn)一機(jī)多用，滿足多種不同類型芯片的測試需求。測試準(zhǔn)確率高，配置有PPMU、時(shí)序校準(zhǔn)、DC測量校準(zhǔn)等功能模塊，可實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)pattern和高精度參數(shù)測量。配置DFT向量測試功能，能滿足DFT測試需求。上述功能特點(diǎn)，使其具備更廣的測試覆蓋率、更高效的測試效率和更精準(zhǔn)的測試結(jié)果，可幫助用戶提升芯片良率，降低綜合測試成本。